Проектирование электроснабжения коттеджных поселков, квартир, коттеджей
разработка проектов ТП, КТП, РТП 6 (10, 35 кВ) / 0.4 кВ
По запросу на info@k-volt.ru предоставляем технико-коммерческое предложение на проектирование электроснабжения объекта в течении 3-х рабочих дней.

Контроль проводниковых и полупроводниковых материалов по удельной электрической проводимости

Удельная электрическая проводимость (или удельное сопротивление = 1/) — важный и во многих случаях определяющий параметр проводниковых и полупроводниковых материалов. Удельное сопротивление медных и алюминиевых слитков, из которых изготовляют электрические провода и кабели, определяет сопротивление единицы длины последних, которое строго регламентируется техническими условиями. То же относится к проводам из сплавов высокого электрического сопротивления. Удельное сопротивление материала графитовых и медно-графитовых контактных щеток определяет их сопротивление, от которого зависит температурный режим их работы.

Значением определяются свойства полупроводниковых материалов и структур. В тех случаях, когда можно получить образцы материалов в виде полос, лент, проводов постоянного сечения и достаточно точных размеров, возможно измерение или , например, с помощью двойных мостов. Однако такие образцы могут быть получены не всегда, они должны быть метрологически аттестованы по размерам. Кроме того, измерение дает среднее значение или по всему образцу, не обнаруживая возможных вариаций или по длине образца и по его сечению. Бесконтактное измерение или или поверхностного сопротивления Rs (для тонких ОК) свободно от этих недостатков.

Для бесконтактного измерения проводниковых материалов применяют вихретоковые измерители удельной электрической проводимости серии ВЭ. Они позволяют измерять с погрешностью 2—3% на участке ОК диаметром 10—20 мм при минимальной толщине OK 1 мм, причем измерения возможны под слоем оксидов, окалины, масла, красок толщиной 0,1—0,3 мм.

Приборы серии ВЭ успешно применяются также для контроля и разбраковки проводниковых материалов и изделий из них по маркам сплавов. Эта задача возникает в тех случаях, когда есть вероятность ошибки в марке материала, из которого изготовлены детали ответственного назначения. Зная значения , соответствующие той или иной марке, можно определить марку.

Для измерения полупроводниковых материалов и структур в процессе производства полупроводниковых приборов применяют радиоволновые, вихретоковые и электроемкостные приборы. С помощью радиоволнового прибора ПКП-2 измеряют полное комплексное сопротивление Z однородных кремниевых монокристаллов и пластин по отраженному сигналу на волне длиной 8 мм, а с помощью градуировочных кривых находят , значения которого могут быть в пределах 10—6-10—1 Oм*м. По Значениям комплексного коэффициента пропускания трехсантиметровых волн через полупроводниковые пластины, определенного приборами типа СИМП, измеряющими в диапазоне 0,01—4 кОм, раздельно контролируют толщину и пластин. Параметры пластин можно измерить также приборами типов ВЕИС и ВИИС иа частотах 120—180 МГц.

Приборы ПКП и СВП позволяют контролировать также параметры эпитаксиальных слоев на исходной полупроводниковой основе. Параметры диффузионных структур силовых кремниевых приборов, кремниевых и германиевых интегральных схем и кремниевых солнечных элементов контролируются радиоволновыми и вихретоковыми приборами на разных стадиях технологического процесса. Радиоволновые приборы серии СВП применяют для измерения поверхностного сопротивления Rs диффузионных слоев, например р+-p -слоев силовых приборов, р+-р-n-n+-структур. Значение Rs низкоомных диффузионных слоев кремниевых тиристорных структур определяют приборами типа ВИИС. Все описанные измерения выполняются с помощью предварительно построенных по образцам градуировочных графиков.

На правах рекламы:
www.sdm-stroi.ru - ремонт и реконструкция зданий.